SENSITOMETRI

Pada awal perkembangannya, sensitometri diperkenalkan pertama kalu pada abad ke 19 untuk mengevaluasi performance material fotografik. Pada bidang radiofotografi, Sensitometri adalah metode mengukur karakteristik respon film terhadap radiasi baik dari cahaya tampak atau sinar X.

Sensitometri diukur menggunakan kurva karakteristik. Kurva karakteristik juga biasa disebut kurva D log E yaitu kurva yang menunjukkan hubungan antara log eksposure dengan besarnya densitas pada radiograf. Nama lain kurva karakteristik adalah kurva “Hurter and Driffield” karena mereka berdua yang menemukan pertama kurva kkarakteristik

Gambar Kurva Karakteristik

Kurva karakteristik dibuat dengan cara film diekspose dengan sinar X atau cahaya tampak dengan nilai eksposi tertentu untuk menghasilkan serial densitas, kemudian film di proses dan hasil densitasnya diukur dengan densitometer dan dibuat sebuah kurva yang dikenal dengan kurva karakteristik.

PENGERTIAN DENSITAS

Densitas dapat didefinisikan sebagai jumlah atau tingkat kehitaman pada film. Densitas merupakan dasar dalam pengukuran dari sensitometri. Densitas dapat diperoleh dengan menurunkan dua perbandingan sederhana, insiden cahaya (I) dan cahaya yang ditransmisikan (T). Tidak ada cahaya trasnmitting bahan benar-benar transparan, sehingga terang selalu diserap dalam bagian melalui materi.

Rasio transmisi : It/Io X 100%

It = chy yg diteruskan

Io= chy mula-mula

Opasiti : Io/It

OPTIKAL DENSITI (OD) = Log Opasiti = Log Io/It

Langkah langkah dalam pembuatan kurva karakteristik pada dasarnya hanya ada 3 langkah yaitu:

• EKSPOSI DAN PROCESING FILM

• MENGUKUR DENSITAS YG DIHASILKAN

• PLOTTING KURVA

Pada langkah “EKSPOSI” ada dua cara yng dapat digunakan yaitu

Time Scale Sensitometry (menggunakan eksposi X-ray). Pada metode ini, satu film diekspose dengan Kv, mA tetap yg berubah s pada daerah yang berbeda pada film tersebut.

Intensity Scale Sensitometry

- dengan step wedge/penetrometer (diekspose dengan X-ray)

- dengan sensitometer (diekspose dengan cahaya tampak)

Cara metode Time Scale

· kV, mA dan jarak diatur konstan

· Waktu eksposi yang bervariasi selalu dengan faktor kelipatan 2.

· Sebelas paparan cukup untuk memberikan daya yang cukup pada kurva karakteristik untuk plot grafik yang wajar

· Keuntungan:

o Waktu dapat diketahui

· Kekurangan:

o Eksposi perlu ditetapkan, jika mulai dengan 0,1 s, seri akan 0.1, 0.2, 0.4, 0.8, 1.6, 3.2, 6.4,12.8, 25,6, 51,2, 102,4

o perlu timer yang baik pada penyetingan pesawat dengan tinggkat kesalahan 0.01

o Pengujian ini memakan waktu untuk melakukan

Dengan menggunakan step wedge

· Disiapkan stepwedge/penetrometer

· Dieksposure dengan kV, mAs

· Hasil dicatat danplotting kurva.

· Keuntungan:

o Penetrometer dapat dibuat dalam beberapa langkah; karakteristik akan lebih akurat.

o Penetrometer dapat digunakan kembali

o Hal ini dapat digunakan dengan kombinasi film screen berbeda

o Kemungkinan untuk mengolah film dengan densties rendah masuk prosesor pertama.

· Kekurangan:

o Kurva karakteristik yang dihasilkan hanya untuk kV tertentu

Menggunakan Sensitometer

· Keuntungan

o Cepat dan mudah digunakan

o Dapat digunakan dengan kombinasi film screen yang berbeda

o Memungkinkan untuk mengolah film dengan densties rendah masuk prosesor pertama

· Kekurangan

o Harga Akat relative mahal.

Gambar Sensitometer

Gambar Densitometer

Gambar Step Wedge